Mariano Anderle è tra i curatori degli atti del 18° Congresso Internazionale sulla Spettrometria di Massa di Ioni Secondari - SIMS, tenutosi a Riva del Garda, dal 18 al 23 settembre 2011, pubblicati su un numero speciale della rivista "Surface and Interface Analysis" J. Wiley Editor.
Link pubblicazione Surface and Interface Analysis
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